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求助:奥氏体晶粒度的检测

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[LV.7]常住居民III

发表于 2007-10-13 09:02:25 | 显示全部楼层 |阅读模式
北京中仪天信科技有限公司
在奥氏体晶粒的显示法中有一种:网状渗碳体法
  试样在810~830℃下加热,并至少保温30min,然后随炉缓慢冷却到低于下限临界温度,以便在奥氏体晶界上析出渗碳体网
   这种方法可以应用于轴承钢GCr15吗?“随炉缓慢冷却到低于下限临界温度”中冷却速度具体有限制吗?是多少?“下限临界温度”如何理解?具体是多少?

该用户从未签到

发表于 2007-10-13 10:32:21 | 显示全部楼层
你到底要测试实际晶粒度还是本质晶粒度?
目的不同,方法也会有差异的。
本质晶粒度:网状渗碳体法,你的830摄氏度加热,温度偏低了。
一般是930加热3小时,冷到600摄氏度出炉(冷速80-100度/小时),然后金相法观察,评级。

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[LV.7]常住居民III

 楼主| 发表于 2007-10-13 11:00:29 | 显示全部楼层
按照GB6394-86《金属平均晶粒度测定法》检测奥氏体晶粒

该用户从未签到

发表于 2007-10-13 11:12:00 | 显示全部楼层
随炉冷却标准上不是已经说了么?
实验炉随炉冷却就可以了。GCR15 临界点:AC1 760  , ACM 900 ,AR3 707 ,AR1695。
冷到600度,出炉就可以了。没必要控制那么精确。

该用户从未签到

发表于 2007-10-13 11:29:45 | 显示全部楼层
没有专用的设备,我劝你还是要慎重。有风险的。
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